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X熒光分析儀 RoHS檢出限Pb≤5ppm,Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm,Cl≤50ppm, 準直器:Ø1,Ø2,Ø4mm 軟件方法:FlexFP 工作區:開放工作區自定義
X熒光光譜儀 應用領域: 貴金屬(Pt、Au、Pd、Ag、Rh等)相關制品的生產、銷售、回收的檢測; 用于各種金屬合金(銅合金、鐵合金、不銹鋼、錫合金等)的成份分析。
X熒光光譜儀機 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度. 統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便有效的控制品質.
X熒光光譜儀器 光譜儀器 別設計的原級、二次濾光系統,既保證了對有害元素的激發效率,同時全面降低了作為干擾因素的背景強度,充分提峰背比,大幅度降低檢出下限。
光譜測試儀器 光譜元素測試機器設備可很方便的根據自身材質狀況,針對性的建立風險材料的工作曲線,全面提工作曲線與被測材料的對應性。 測試化驗金屬元素光譜儀器設備模塊化設計與組件選擇,確保了整機性能的穩定性與未來服務的操作簡便性。
能量色散熒光光譜儀 光譜檢測儀全自動精度背景擬合、多元回歸等解譜方法的應用,使復雜材質的檢測更加準確、便捷。 特別預置的譜圖對比功能,很方便的實現歷史譜圖與被測譜圖的對比,利于對檢測數據突變材質的準確分析與進一步研究,幫助企業提升風險分析能力及應對水平。
X射線分析儀器 X射線檢測儀器對可能影響整機度及穩定性的核心器件,全部采用進口原廠器件。 特別設計的原級、二次濾光系統,既保證了對有害元素的激發效率,同時全面降低了作為干擾因素的背景強度,充分提峰背比,大幅度降低檢出下限。
X熒光光譜儀機器 對可能影響整機度及穩定性的核心器件,全部采用進口原廠器件。 模塊化設計與組件選擇,確保了整機性能的穩定性與未來服務的操作簡便性。 特別設計的原級、二次濾光系統,既保證了對有害元素的激發效率,同時全面降低了作為干擾因素的背景強度,充分提峰背比,大幅度降低檢出下限。
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